Cеминар «Методы анализа тонких пленок и покрытий»

Россия, Москва

Семинар будет посвящен практическим аспектам использования методов анализа тонких пленок: эллипсометрии и спектроскопии тлеющего разряда.

Мы поговорим о теоретических основах данных методик, а главное, рассмотрим реальные примеры для анализа полупроводниковых пленок и многослойных структур, оптических покрытий, солнечных батарей и мониторов и многого другого (в зависимости от заявок мы подберем практические примеры). Одной из основных сложностей эллипсометрии является решение обратной задачи. Поэтому отдельная лекция будет посвящена работе с программным обеспечением для обработки данных эллипсометрии, включая практическую работу с ПО

При обращении к организаторам мероприятия обязательно ссылайтесь на сайт «Конференции.ru» как на источник информации.

Последний день подачи заявки: 13 мая 2009 г. (приём заявок закончен)

Организаторы: Horiba Scientific, совместно с компанией Nytek Instruments

Контактная информация: Эльвира Аникина Менеджер по маркетингу «Найтек Инструментс» Тел./Факс: +7(495) 661 06 81 Моб.тел.:+7(926) 711 25 34 www.nytek.ru www.horiba.com/Scientific

Эл. почта: eadroggina@mail.ru

Поделитесь информацией о мероприятии со знакомыми: